Isabella Lau, M. Sc.
Department Elektrotechnik-Elektronik-Informationstechnik (EEI)
Lehrstuhl für Technische Elektronik
Cauerstraße 9
91058 Erlangen
- Telefon: +49 9131 85-27185
- Faxnummer: +49 9131 85-28730
- E-Mail: isabella.lau@fau.de
- Webseite: http://www.lfte.de
Lebenslauf
Isabella Lau schloss ihr Masterstudium im Fachbereich „Elektrotechnik, Elektronik und Informationstechnik“ mit der Studienrichtung „Allgemeine Elektrotechnik“ an der Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg im Juni 2017 mit Auszeichnung ab. Seit August 2017 ist sie am Lehrstuhl für Technische Elektronik im Team Circuits, Systems und Hardware Test (CST) als wissenschaftliche Mitarbeiterin beschäftigt.
Arbeitsgebiete
- Dielektrische Materialcharakterisierung bis 110 GHz
- Hochfrequenzmesstechnik
- Feldsimulationen mittels CST Studio Suite
Abschlussarbeiten
Aus unseren Forschungsprojekten ergeben sich stets interessante Themen für Abschlussarbeiten (Bachelor / Master) oder Forschungspraktika. Für weitere Informationen und aktuelle Themen einfach unverbindlich vorbeikommen oder eine E-Mail schreiben.
Auszeichnungen
- 2018: Förderung einer Kongressreise (EuMW 2018) (Deutscher Akademischer Austauschdienst)
Publikationen
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Influence of the PCB Manufacturing Process on the Measurement Error of Planar Relative Permittivity Sensors Up To 100 GHz
In: IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques 67 (2019), S. 2793-2804
ISSN: 0018-9480
DOI: 10.1109/TMTT.2019.2910114
URL: https://ieeexplore.ieee.org/document/8698275
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An Error Compensation Algorithm for Indirect Resonant Planar Relative Permittivity Sensor Principles up to 100 GHz
IEEE MTT-S International Microwave Workshop Series on Advanced Materials and Processes (Bochum, 16. Juli 2019 - 18. Juli 2019)
DOI: 10.1109/IMWS-AMP.2019.8880090
URL: https://ieeexplore.ieee.org/document/8880090
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Design of a Rotary Coupler for Data Transmission on Fast Rotating Mechanical Shafts and Roboter Arms
IEEE Radio and Wireless Symposium (RWS) (Orlando, FL, 20. Januar 2019 - 23. Januar 2019)
DOI: 10.1109/RWS.2019.8714480
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An Accurate Free Space Method for Material Characterization in W-Band Using Material Samples with Two Different Thicknesses
European Microwave Conference (EuMC) (Madrid, 25. September 2018 - 27. September 2018)
DOI: 10.23919/EuMC.2018.8541437
URL: https://ieeexplore.ieee.org/document/8541437
BibTeX: Download - , , , , :
A Resonant Substrate Integrated Waveguide Measurement System for True Relative Permittivity Extraction of PCB Materials up to 90 GHz
IEEE MTT-S International Microwave Workshop Series on Advanced Materials and Processes (IMWS-AMP) (Ann Arbor, 16. Juli 2018 - 18. Juli 2018)
DOI: 10.1109/IMWS-AMP.2018.8457133
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